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Introduzione: microscopia ottica a campo prossimo

La microscopia ottica a campo prossimo rende possibile l’osservazione di strutture molto più piccole di quelle osservabili con un microscopio ottico convenzionale. Con questa tecnica, oltre alle caratterisctiche topografiche della superficie dell’oggetto, possono venir analizzate anche le sue caratterisctiche ottiche su scala submicrometrica.

La risoluzione di un microscopio ottico convenzionale è limitata per effetto della diffrazione a circa la metà della lunghezza d’onda della radiazione utilizzata. Questo limite può venir superato grazie alla microscopia ottica a campo prossimo (SNOM), che appartiene alla famiglia delle microscopie a sonda, quali la microscopia ad effetto tunnel (STM) e a forza atomica (AFM o SFM).

Queste tecniche si caratterizzano per l’utilizzo di micro sonde appositamente studiate, che permettono l’analisi di proprietà della superficie del campione (tramite scansione) con un elevata risoluzione sia laterale che verticale.

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